下面是新东方网整理的沈阳建筑大学材料分析测试技术2021考研复试大纲，供大家参考。

　　沈阳建筑大学材料分析测试技术2021考研复试大纲

　　一、考查目标

　　本科目主要考查学生对X射线、电子显微等近代分析测试技术研究材料微观组织、结构及成分分析的基本原理、仪器构造和应用范围等的掌握，并能对测试结果进行科学分析。

　　二、考试形式与试卷结构

　　(一)试卷满分及考试时间

　　试卷满分为100分，考试时间为2小时。

　　(二)答题方式

　　闭卷、笔试。

　　(三)试卷内容结构

　　X射线分析理论基础：占20%

　　X射线衍射方法及衍射分析：占30%

　　TEM分析：占10%

　　SEM分析：占25%

　　其它材料分析测试技术：占15%

　　(四)试卷题型结构

　　名词解释：20%

　　简答题：50%

　　论述题：30%

　　三、考查内容及要求

　　(一)X射线分析理论基础

　　1.X射线的本质及x射线谱;

　　2.X射线与物质的相互作用;

　　3.X射线衍射与布拉格方程;

　　4.倒易点阵;

　　5.X射线衍射强度与结构因数的计算。

　　要求：掌握X射线物理学基础(X射线本质、X射线谱、X射线与物质相互作用);理解X射线运动学衍射理论，能够运用Ewald图解进行衍射分析，会进行衍射强度的计算，熟悉倒易点阵。

　　(二)X射线衍射方法及衍射分析

　　1.粉末照相法;

　　2.X射线衍射仪法;

　　3.物相的定性分析;

　　4.物相的定量分析;

　　5.X射线在材料测试分析方面的其他应用。

　　要求：掌握两种X射线衍射方法(粉末照相、多晶衍射仪法);了解晶体取向的测定方法及分析步骤;能够进行点阵常数的测定;掌握多晶体物相分析并进行相应的定量计算;掌握宏观应力的测定。

　　(三)TEM分析

　　1. 电子与物质的交互作用;

　　2. 透射电镜的结构及应用;

　　3. 电子衍射及结构分析;

　　4. 材料薄膜样品的制备与薄晶体样品的衍衬成像原理。

　　要求：掌握电子与物质相互作用理论。熟练掌握TEM结构、原理、样品制备、金属薄膜的衍射分析。

　　(四)SEM分析

　　1. 扫描电镜工作原理、构造和性能;

　　扫描电镜在材料研究中的应用。

　　要求：了解扫描电镜的基本结构和工作原理;熟练掌握扫描电镜在材料分析中的应用(表界面、断口分析)。

　　(五)其它材料分析测试技术

　　1.热分析及应用;

　　2.波谱仪及应用;

　　3.能谱仪及应用;

　　4.电子探针分析方法及微区成分分析技术。

　　要求： 掌握热分析技术，熟练掌握波谱仪和能谱仪以及电子探针分析方法。

　　四、考试用具说明

　　考试需携带科学计算器。

　　五、参考书目或参考资料

　　《无机非金属材料测试方法》，杨南如，2005年重排本，武汉理工大学出版社

　　《材料分析方法》(第三版)，周玉，2011年，机械工业出版社

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